VK-X100/X200系列形状测量激光显微系统

2016-05-18新闻资讯

3月27日,工业自动化领域,销售传感器、测量仪器、显微系统以及逻辑控制系统的供应商,日本知名企业基恩士在北京召开了媒体见面会。会上指出将加强在中国市场「形状测量激光显微系统VK-X100/X200 系列」的销售。VK-X100/X200 系列1台机器便可以实现无与伦比的高分辨率大范围形状测量。

该款产品集·SEM·粗糙度的功能于一身!

「形状测量激光显微系统VK-X100/X200 系列」的特点如下;

高分辨率,大景深观察

(1)  高分辨率, 最大放大24000 倍

(2)  完全聚焦的清晰图像

(3)  符合溯源性要求

仿佛彩色 SEM

(1)  16 bit 激光彩色观察

(2)  放置并且测量,您可以在几秒钟内进行分析

(3)  可拆卸测量头单元允许各种尺寸的样品测量。可拆卸测量头单元可以与其他设备整合并支持远程操作。

无损轮廓和粗糙度测

(1)  非接触式设计,可用于测量软质的工件

(2)  方便定位测量区域

(3)  激光光束波长比表面粗糙度测量直径小