STED高分辨率的探索实现
2016-05-18新闻资讯
非常感谢Grazvydas Lukinavicius博士（瑞士 LIP-EPFL Kai Johnsson实验室的教授） ，他为我们提供了用Leica封闭STED系统展示的55nm FWHM分辨率。为了达到更高的目的， Lukinavicius 教授使用Huygens STED deconvolution软件将分辨率提高到22nm FWHM。
中心粒用偶联荧光染料Alexa488的一抗和二抗染色，在Gated STED上得到单平面和共聚焦数据。上下图像分别是用Huygens去卷积处理前和处理后的对比。该数据得到了瑞士EPFL Grazvydas Lukinavicius教授的允许。
通过提供完备而易用的图像处理包，Huygens能让您获得图像中Zui精髓的部分。
Grazvydas Lukinavicius教授认为Huygens软件有如下特点：
l 典型的图像处理问题如模糊、噪音等都被有效地纠正，为后续的展示和3D-4D多通道数据量化提供可靠地数据。Huygens可以和Zui好的显微镜兼容，如Leica的STED系统
l 提高XYZ分辨率2倍之多，提高信噪比10倍以上
l 矫正了球形误差、颜色漂移和串色
l 稳定3D图像和时序图像的漂移
l 可以进行更先进的共定位和目标物分析
l 可以应用实时高通量去卷积和分析
共聚焦、STED图像，Huygens软件处理后的图像